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Technical papers

2004 (2047.67 KB)
R. Heinrich: EMV-Messempfänger - Aufbau und Unterschiede zu Spektrumanalysatoren, HF-Report Nr.1/2004, Februar/März 2004, 18. Jahrgang ...
2004 (408.85 KB)
R. Heinrich, U. Karsten: Messung der elektrischen Feldstärke unter 30 MHz, D&V Kompendium 2004/2005, publish-industry Verlag GmbH, München, ISBN 3-934698-22-0 ...
2006 (89.47 KB)
R. Heinrich, U. Karsten: Reverberation chambers – design and application for EMC, EMC Zurich 2006 in Singapore Feb. 28 – March 3, paper W-OF-004 ...
2006 (478.72 KB)
H. Streitwolf, R. Heinrich, U. Karsten, L. Dallwitz, H.-G. Behnke: Modelling approaches and experimental analysis of measurement uncertainty in radiated susceptibility tests, 51. Internationales wissenschaftliches Kolloquium Ilmenau, 11.-15. September 2006 ...
2007 (298.99 KB)
H. Streitwolf, R. Heinrich, H.-G. Behnke, L. Dallwitz, U. Karsten: Comparison of radiated immunity tests, EMC Zurich 2007 in Munich, Sept.24 - 28 ...
2008 (172.59 KB)
R. Heinrich, U. Karsten, H.-G. Krauthäuser: Referenzprüfling für gestrahlte Störfestigkeitsprüfungen, EMV 2008 Düsseldorf, 19-21.2. 2008 ...
2008 (285.02 KB)
R. Heinrich, V. Müllerwiebus, A. Lange, B. Deutschmann, U. Karsten, F. Klotz: Application of GTEM Cells for IC EMC Testing, joint Asia-Pacific Symposium on EMC and 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, Singapore, May 19-22, 2008 ...
2009 (574.04 KB)
R. Heinrich, H. Streitwolf, L. Dallwitz, U. Karsten: Test device for radiated immunity tests, 20th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, Zurich, January 12-16, 2009 ...
2009 (422.35 KB)
R. Heinrich: Messunsicherheit bei leitungsgebundenen Störfestigkeitsprüfungen nach der neuen IEC 61000-4-6 Ed. 3.0, EMV-ESD Heft 1, 2009 ...
2009 (126.5 KB)
R. Heinrich: On the Uncertainty in the Immunity Standards of the IEC 61000-4-x Series, 2009 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Kyoto, July 20-24, 2009 ...
2010 (5587.61 KB)
R. Heinrich, U. Karsten: Feldsondenkalibrierung nach IEC 61000-4-3 und IEC 61000-4-20, EMV-ESD Heft 1, 2010 ...
2010 (670.65 KB)
R. Heinrich, D. Dutschmann: Investigation and Comparison of Different Methods for EM Clamp Calibration, Asia-Pacific EMC Week (APEMC 2010), Beijing, April 12-16, 2010 ...
Direct entry:
Next exhibition
September 7 - 10, 2010:
Electronica & Productronica 2010, Bangalore, India ...
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